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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

Wir freuen uns auf Ihren Anruf.

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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

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PXI Karte | GX3702 PXI Karte | GX3702
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3702

FPGA, Benutzerkonfigurierbar, 700 MHz digitale I/O-Taktrate, Kompatible I/O mit NI PXI 7813R / 7811R FPGAs
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3788 PXI Karte | GX3788
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3788

Multifunktionskarte, FPGA, 96 digitale I/O-Signale, Benutzerkonfigurierbar, Integrierter DMA-Controller
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5281 PXI Karte | GX5281
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5281

32 Kanal, 50 MHz, 128 MB On-Board Speicher, unterstützt TTL / LVTTL-Schnittstellen
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5282 PXI Karte | GX5282
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5282

32 Kanal, 100 MHz, 256 MB On-Board Speicher, unterstützt TTL / LVDS / M-LVDS / LVDM / LVTTL-Schnittstellen
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5283 PXI Karte | GX5283
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5283

32 Kanal, 200 MHz, 512 MB On-Board Speicher, unterstützt TTL / LVDS / M-LVDS / LVDM / LVTTL-Schnittstellen
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5291-100 PXI Karte | GX5291-100
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5291-100

32 Kanal, 100 MHz, 128 MB On-Board Speicher, unterstützt TTL / LVTTL
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5291-50 PXI Karte | GX5291-50
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5291-50

32 Kanal, 50 MHz, 128 MB On-Board Speicher, unterstützt TTL / LVTTL
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5292 PXI Karte | GX5292
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5292

32 Kanal, 100 MHz, 256 MB On-Board Speicher, Stimulus / Response & Echtzeit-Vergleichsmodi
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5292E PXI Karte | GX5292E
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5292E

32 Kanal, 100 MHz, 256 MB On-Board Speicher, Stimulus / Response & Echtzeit-Vergleichsmodi
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5293 PXI Karte | GX5293
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5293

16 Kanal, 100 MHz, 32 Kanal für Vektorraten < 100 MHz, unterstützt TTL / LVDS / M-LVDS / LVDM / LVTTL
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5295 PXI Karte | GX5295
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5295

32 I/O-Kanäle, 4 Steuer-/Timing-Kanäle, 100 MHz, Stimulus / Response & Echtzeit-Vergleichsmodi
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5296 PXI Karte | GX5296
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5296

32 I/O-Kanäle, 4 Steuer-/Timing-Kanäle, 125 MHz, Timing pro Pin, mehrere Zeitsets und flexibler Sequenzer
Preis auf Anfrage
6 von 10

Testsysteme werden in unterschiedlichste Anwendungen und Branchen eingesetzt. Testsysteme prüfen, ob elektronische Baugruppen, Geräte etc. die definierten Funktionen und Parameter auch unter Belastung einhalten.

Welche Arten von Funktionstests gibt es?

  • Run-In:
    Unter kontinuierlichem Temperaturwechsel wird getestet, ob Baugruppen in ihrem definierten Temperaturbereich leistungsfähig bleiben und nicht ausfallen.
  • Burn-In:
    Hier sollen Material- und Bauteilschwächen erkannt werden, indem man beim Test die Baugruppenalterung simuliert.
  • HASS (Highly accelerated stress screen):
    Bevor die Endmontage der Baugruppen erfolgt, werden sie nochmals einem mechanischen Belastungstest bei stabiler Temperatur unterzogen.
  • HALT (Highly accelerated life test):
    Die Prüflinge werden im Laufe des Produktionsprozesses extremen Temperaturschwankungen und mechanischen Belastungen ausgesetzt.

Modulare Funktionstestsysteme können Sie direkt in Abstimmung mit unseren KollegInnen in einem Baukastensystem konfigurieren. Durch die standardisierten Bestandteile wird ein attraktives Preis-/Leistungsverhältnis realisiert.

 Auch individualisierte Lösungen sind möglich, sodass auch schon vorhandene Testanlagen beliebig erweitert werden können.

Die Software - ein zentrales Element

Zentrales Element von Funktionstestsystemen ist die angewendete Software. LXinstruments verfügt über umfangreiche und leistungsfähige Software-Module, die optimal aufeinander abgestimmt und für alle Anforderungen geeignet sind.

  1. Test Sequencer Common Operator Environment (TSCOE)
    TSCOE ist die grafische Benutzer- und Bedienerschnittstelle, die mit der verwendeten Automatisierungstechnik kommuniziert.2.
  2. Test Management Software (TMS)
    Diagnostiziert und analysiert elektronische Komponenten und eignet sich besonders für kleine und mittelgroße Systeme.
  3. Magpie
    ist eine weiterentwickelte Auswerte- und Datamining Applikation, um Reports und Trendanalysen anhand der ausgewählten Daten.
  4. OPC UA-Schnittstelle
    Sie ermöglicht eine standardisierte Anbindung aller Testsysteme an ein
      •  Prozessleitsystem (Leitlinienrechner)
      • Automatisierungs- und Handling-System sowie
      • SPS (speicherprogrammierbare Steuerung).

Selbstverständlich gibt es auch Testsysteme, die andere Fragestellungen haben, wie bei Batterie- oder Brennstoffzellentests, wo elektrochemische Prozesse und Impedanzmessungen im Mittelpunkt stehen. Mehr Informationen und Produkte dazu finden Sie in unseren Bereichen Elektrochemie und Batterie Messtechnik.

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