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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

Wir freuen uns auf Ihren Anruf.

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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

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PXI Karte | GX5960 PXI Karte | GX5960
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5960

50 MHz Subsystem, Hochleistungs-Timing-Generator, Hochleistungs-Pin-Elektronik, 256 Timing-Sets, 256K Speicher
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5961 PXI Karte | GX5961
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5961

50 MHz Subsystem, Hochleistungs-Timing-Generator, 16 Treiber / Sensor-Kanal, 256 Timing-Sets, 256K Speicher
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX5964 PXI Karte | GX5964
Marvin-Test-Solutions
MV-GX5964

50 MHz Subsystem, Hochleistungs-Timing-Generator, 32 bidirektionale I/O Kanäle, 256 Timing-Sets, 256K Speicher
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6021 PXI Karte | GX6021
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6021

20 Kanal RF Multiplexer/Scanner, 300 MHz, 4 Gruppen von 1x4 Multiplexer-Scanner, 3HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6032 PXI Karte | GX6032
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6032

GENASYS Matrix Schalter Schnittstellenmodul, 32x16,Rear-I/O-Modul, Zugriff auf den internen 16-Draht-Schaltbus
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6115 PXI Karte | GX6115
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6115

Hochstromrelais, 7 A pro Kanal, 3 zusätzliche Relaistreiber für externe Relais, D-Sub-I/O-Anschluss, 3 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6192 PXI Karte | GX6192
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6192

Hochfrequenz-Multiplexer / Matrix-Schaltkarte, 192 x 16 x 16, kompatibel zum GENASYS-Schaltsubsystem, 6 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6256 PXI Karte | GX6256
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6256

GENASYS LF Multiplexer, 256 x 16 x 16, Hybrid-Pin-Architektur für digitalen und analogen Test, 6 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6264-C PXI Karte | GX6264-C
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6264-C

Kommerzielle Qualität, 500 MHz, 75 Ohm, "kabellose" Testsystem-Schnittstelle, 6 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6264-I PXI Karte | GX6264-I
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6264-I

Industrietauglichkeit, 500 MHz, 75 Ohm, "kabellose" Testsystem-Schnittstelle, 6 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6315 PXI Karte | GX6315
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6315

9 zusätzliche Relaistreiber, 7 A pro Kanal, 45 einzelne Hochstrom (SPDT) Form C Relais
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX6325 PXI Karte | GX6325
Marvin-Test-Solutions
MV-GX6325

2 A pro Kanal, 75 einzelne Hochstrom (SPDT) Form C Relais, 78-poliger D-Sub-I/O-Stecker, 6 HE
Preis auf Anfrage
7 von 10

Testsysteme werden in unterschiedlichste Anwendungen und Branchen eingesetzt. Testsysteme prüfen, ob elektronische Baugruppen, Geräte etc. die definierten Funktionen und Parameter auch unter Belastung einhalten.

Welche Arten von Funktionstests gibt es?

  • Run-In:
    Unter kontinuierlichem Temperaturwechsel wird getestet, ob Baugruppen in ihrem definierten Temperaturbereich leistungsfähig bleiben und nicht ausfallen.
  • Burn-In:
    Hier sollen Material- und Bauteilschwächen erkannt werden, indem man beim Test die Baugruppenalterung simuliert.
  • HASS (Highly accelerated stress screen):
    Bevor die Endmontage der Baugruppen erfolgt, werden sie nochmals einem mechanischen Belastungstest bei stabiler Temperatur unterzogen.
  • HALT (Highly accelerated life test):
    Die Prüflinge werden im Laufe des Produktionsprozesses extremen Temperaturschwankungen und mechanischen Belastungen ausgesetzt.

Modulare Funktionstestsysteme können Sie direkt in Abstimmung mit unseren KollegInnen in einem Baukastensystem konfigurieren. Durch die standardisierten Bestandteile wird ein attraktives Preis-/Leistungsverhältnis realisiert.

 Auch individualisierte Lösungen sind möglich, sodass auch schon vorhandene Testanlagen beliebig erweitert werden können.

Die Software - ein zentrales Element

Zentrales Element von Funktionstestsystemen ist die angewendete Software. LXinstruments verfügt über umfangreiche und leistungsfähige Software-Module, die optimal aufeinander abgestimmt und für alle Anforderungen geeignet sind.

  1. Test Sequencer Common Operator Environment (TSCOE)
    TSCOE ist die grafische Benutzer- und Bedienerschnittstelle, die mit der verwendeten Automatisierungstechnik kommuniziert.2.
  2. Test Management Software (TMS)
    Diagnostiziert und analysiert elektronische Komponenten und eignet sich besonders für kleine und mittelgroße Systeme.
  3. Magpie
    ist eine weiterentwickelte Auswerte- und Datamining Applikation, um Reports und Trendanalysen anhand der ausgewählten Daten.
  4. OPC UA-Schnittstelle
    Sie ermöglicht eine standardisierte Anbindung aller Testsysteme an ein
      •  Prozessleitsystem (Leitlinienrechner)
      • Automatisierungs- und Handling-System sowie
      • SPS (speicherprogrammierbare Steuerung).

Selbstverständlich gibt es auch Testsysteme, die andere Fragestellungen haben, wie bei Batterie- oder Brennstoffzellentests, wo elektrochemische Prozesse und Impedanzmessungen im Mittelpunkt stehen. Mehr Informationen und Produkte dazu finden Sie in unseren Bereichen Elektrochemie und Batterie Messtechnik.

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