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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

Wir freuen uns auf Ihren Anruf.

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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

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PXI Karte | GX2065 PXI Karte | GX2065
Marvin-Test-Solutions
MV-GX2065

6.5 stelliges DMM, bis zu 300 V, AC True RMS, 7 Widerstandsbereiche, 100 Ohm bis 100 Mohm
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX2472 PXI Karte | GX2472
Marvin-Test-Solutions
MV-GX2472

2 Kanal Digitalisierer, 70 MS/s, Differenzielle Eingänge, 14 Bit Digitalisierer, 1 V bis 20 Vpp
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX2475 PXI Karte | GX2475
Marvin-Test-Solutions
MV-GX2475

2 Kanal Digitalisierer, 70 MS/s, Differenzielle Eingänge, 14 Bit Digitalisierer, 75 V bis 600 Vpp
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3348 PXI Karte | GX3348
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3348

Multikanal-Analog-Karte, 48 Kanal, 4x48 Matrix, drei programmierbare DC-Ausgänge, max. 500 mA, 6 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3364 PXI Karte | GX3364
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3364

Multikanal-Analog-Karte, 64 Kanal, 4x64 Matrix, drei programmierbare DC-Ausgänge, max. 500 mA, 6 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3500 PXI Karte | GX3500
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3500

FPGA, Benutzerkonfigurierbar, kombinierbar mit Quartus II Design-Tolls, 3 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3601 PXI Karte | GX3601
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3601

FPGA, 80 Kanal, TTL Buffer Modul, Benutzerkonfigurierbar, Richtungssteuerung pro Pin konfigurierbar, 3 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3609 PXI Karte | GX3609
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3609

FPGA, 80 Kanal, Diff. TTL Buffer Modul, Benutzerkonfigurierbar, Richtungssteuerung pro Pin konfigurierbar
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3610 PXI Karte | GX3610
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3610

FPGA, 80 Kanal, mLVDS Buffer Modul, Benutzerkonfigurierbar, 200Mb/s Datenrate, 3 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3640 PXI Karte | GX3640
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3640

FPGA, 40 Kanal, ECL Buffer Modul, Benutzerkonfigurierbar, 3 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3700 PXI Karte | GX3700
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3700

FPGA, 160 digitale I/O-Signale, Benutzerkonfigurierbar, 700 MHz digitale I/O-Taktrate
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX3700E PXI Karte | GX3700E
Marvin-Test-Solutions
MV-GX3700E

FPGA, Benutzerkonfigurierbar, 700 MHz digitale I/O-Taktrate, 800 MB/s Datenübertragungsrate
Preis auf Anfrage
5 von 10

Testsysteme werden in unterschiedlichste Anwendungen und Branchen eingesetzt. Testsysteme prüfen, ob elektronische Baugruppen, Geräte etc. die definierten Funktionen und Parameter auch unter Belastung einhalten.

Welche Arten von Funktionstests gibt es?

  • Run-In:
    Unter kontinuierlichem Temperaturwechsel wird getestet, ob Baugruppen in ihrem definierten Temperaturbereich leistungsfähig bleiben und nicht ausfallen.
  • Burn-In:
    Hier sollen Material- und Bauteilschwächen erkannt werden, indem man beim Test die Baugruppenalterung simuliert.
  • HASS (Highly accelerated stress screen):
    Bevor die Endmontage der Baugruppen erfolgt, werden sie nochmals einem mechanischen Belastungstest bei stabiler Temperatur unterzogen.
  • HALT (Highly accelerated life test):
    Die Prüflinge werden im Laufe des Produktionsprozesses extremen Temperaturschwankungen und mechanischen Belastungen ausgesetzt.

Modulare Funktionstestsysteme können Sie direkt in Abstimmung mit unseren KollegInnen in einem Baukastensystem konfigurieren. Durch die standardisierten Bestandteile wird ein attraktives Preis-/Leistungsverhältnis realisiert.

 Auch individualisierte Lösungen sind möglich, sodass auch schon vorhandene Testanlagen beliebig erweitert werden können.

Die Software - ein zentrales Element

Zentrales Element von Funktionstestsystemen ist die angewendete Software. LXinstruments verfügt über umfangreiche und leistungsfähige Software-Module, die optimal aufeinander abgestimmt und für alle Anforderungen geeignet sind.

  1. Test Sequencer Common Operator Environment (TSCOE)
    TSCOE ist die grafische Benutzer- und Bedienerschnittstelle, die mit der verwendeten Automatisierungstechnik kommuniziert.2.
  2. Test Management Software (TMS)
    Diagnostiziert und analysiert elektronische Komponenten und eignet sich besonders für kleine und mittelgroße Systeme.
  3. Magpie
    ist eine weiterentwickelte Auswerte- und Datamining Applikation, um Reports und Trendanalysen anhand der ausgewählten Daten.
  4. OPC UA-Schnittstelle
    Sie ermöglicht eine standardisierte Anbindung aller Testsysteme an ein
      •  Prozessleitsystem (Leitlinienrechner)
      • Automatisierungs- und Handling-System sowie
      • SPS (speicherprogrammierbare Steuerung).

Selbstverständlich gibt es auch Testsysteme, die andere Fragestellungen haben, wie bei Batterie- oder Brennstoffzellentests, wo elektrochemische Prozesse und Impedanzmessungen im Mittelpunkt stehen. Mehr Informationen und Produkte dazu finden Sie in unseren Bereichen Elektrochemie und Batterie Messtechnik.

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